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破解SiP失效分析難題:InfraTec熱成像顯微鏡如何將3周診斷縮短至2天?

時間:2025-08-27  點擊次數(shù):44

 

??破解SiP失效分析難題:InfraTec熱成像顯微鏡如何將3周診斷縮短至2天???

??——以某國際大廠MLCC故障排查為例??

 

? 破解SiP/3D封裝失效分析困局

? FA效率提升10

? 節(jié)省分析成本

 

??一、行業(yè)痛點:復(fù)雜封裝讓失效分析陷入困局??

隨著消費電子向微型化發(fā)展,系統(tǒng)級封裝(SiP)因其高集成度成為PMIC主流方案。然而,多層基板、銅柱互連、85+無源元件(MLCC/電感/電阻)及塑封結(jié)構(gòu),使得傳統(tǒng)失效分析(FA)流程陷入兩難:

•     ??耗時漫長??:常規(guī)FA需層剝離、電性測量、物理切片,耗時長達(dá)??2-3??(見圖6流程)

??•     ??成本高昂??:單次分析成本高達(dá)??€13,500??,且樣品完全破壞

??•     ??定位盲區(qū)??PEM/OBIRCH等傳統(tǒng)手段對封裝內(nèi)MLCC失效束手無策

 

 

??二、破局關(guān)鍵:鎖相熱成像(LIT)技術(shù)??

針對SiP內(nèi)部MLCC微短路/漏電故障,??熱成像顯微鏡??通過鎖相熱成像(Lock-In Thermography)實現(xiàn)??非破壞性精準(zhǔn)定位??

1.      原理創(chuàng)新??

•     ??對故障引腳施加周期性偏壓,捕獲元件局部發(fā)熱信號

•     ??通過相位鎖定放大微弱的溫度變化(靈敏度達(dá)??0.001°C??

2.       ??實戰(zhàn)表現(xiàn)??

•     ????精準(zhǔn)定位??:直接鎖定失效MLCC(圖7),無需拆除基板

•     ????效率飛躍??:分析時間從3周縮短至??2.5??

 


 

 

 

??三、完整解決方案:LIT+CT雙技術(shù)閉環(huán)??

為提供客戶可驗證的完整證據(jù)鏈,我們構(gòu)建??“LIT定位→CT驗證工作流??

1.       ??LIT初篩??:快速鎖定故障元件(如MLCC內(nèi)部電極短路)

??CT無損驗證??:通過3D斷層掃描確認(rèn)內(nèi)部缺陷(圖9

•     ??可檢測≥5μm的孔隙/分層

•     ??避免破壞性切片導(dǎo)致的證據(jù)丟失

 


 

??四、客戶價值:效率與成本雙贏??

某國際芯片大廠采用本方案后實現(xiàn):

? ??時間成本↓85%??FA周期從3→2.5

? ??分析成本↓75%??:單次成本從€13,500→€3,400

? ??良率提升??:精準(zhǔn)定位MLCC供應(yīng)商工藝缺陷(電極空隙/介質(zhì)層裂紋)

 

 

 

??五、為什么選擇熱成像顯微鏡???

針對SiP/先進(jìn)封裝痛點,我們的設(shè)備具備??不可替代優(yōu)勢??

傳統(tǒng)手段

熱成像顯微鏡方案

需剝離基板/被動件

??非破壞性原位檢測??

盲測耗時數(shù)周

??2小時內(nèi)鎖定故障點??

僅能測表面缺陷

??穿透塑封層/基板??

破壞性證據(jù)鏈

??LIT+CT電子證據(jù)包??

 

 

??六、主要測試機(jī)臺信息-德國InfraTec Thermal 鎖相紅外熱成像顯微鏡-1280(中波制冷型)

 

•   熱成像主機(jī) ImageIR 9500

•   探測器類型 碲鎘汞(MCT)

•   光譜范圍 3.74.8(μm)

•   探測器規(guī)格 (1280 x 720)像素, 12µm

•   MicroScanning 精密光機(jī)微掃組件,實時生成(2560x1440)像素超高清紅外熱圖(可選)

•   熱靈敏度(NETD) 20mK@30ºC

•   冷卻方式 長壽命低功耗分置式線性化制冷器

•   標(biāo)準(zhǔn)測溫量程 (-10+200)ºC

•   可選量程擴(kuò)展 低溫至-40ºC;高溫至3000ºC

•   測量精度 ±1ºC或±1%

•   動態(tài)范圍 14bit16bit (可選)

•   滿幀幀頻 120Hz @ (1280 x 720)像素

•   子窗口模式 自定義成像窗口大小和位置

•   非均質(zhì)化校正 外部手動校正;可選內(nèi)置實時電動快門

•   積分時間(µs120,000

•   電動光譜濾鏡轉(zhuǎn)輪

•   可內(nèi)置1 4孔或5孔位轉(zhuǎn)輪,適用于精確測溫和對特定光譜成像,孔位

•   選擇可手動和自動轉(zhuǎn)換

•   對焦方式 手動或軟件操控電動對焦,具全區(qū)域自動、多區(qū)域自動、指定距離等方式

•   I/O接口 集成化4通道,包括 2路數(shù)字輸入,2路數(shù)字 / 模擬輸出

•   操控和傳輸接口 10GigE 萬兆以太網(wǎng)

•   IRIG-B時間戳 集成到紅外數(shù)據(jù)中,20ns精度

•   電源/功耗 (110-230)VAC / 50Hz輸入 / 24VDC輸出,穩(wěn)態(tài)條件下約30W

•   外殼材質(zhì) 堅固、耐用輕質(zhì)合金

•   防護(hù)等級 IP54 IEC529 IP 67 可選

•   存儲/操作溫濕度 -40+70ºC / -20+50ºC, 10-95% 無冷凝

•   尺寸 / 重量 約241 x 123 x 160mm (LxWxH) / 4.7 kg,不包括鏡頭

•   固定安裝 UNC 1/4” 和 3/8” 標(biāo)準(zhǔn)相機(jī)螺紋,2xM5

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